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聚焦離子束顯微鏡(FIB)
日本JEOL聚焦離子束(FIB) JIB-4500
價 格：詢價
產 地：日本更新時間：2020-10-21 11:21
品 牌：JEOL型 號：JIB-4500
狀 態：正常點擊量：1440
400-006-7520
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上海自提或三方快遞
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1.監控、切割、組裝和三維圖像重構連續操作
2大束流，***大30nA
3.提供空前穩定的圖像
4.低真空功能適用于非導體樣品
5.氣體注入系統用于刻蝕和沉積
6.***大裝樣 150 mm
7.氣鎖式樣品交換
8.五軸全對中樣品臺
9.多個樣品分析接口
產品參數
FIB 分辨率: 5nm, 30kV
SEM分辨率: 2.5nm, 30kV (LaB6)
樣品臺: X/Y 76 mm, Z 5 to 48 mm
T -10 to 90度
R 360 度
標準: LV 模式, BEI,
氣體輸入系統 x1
產品介紹
JIB-4500是集成掃描電鏡和聚焦離子束于***身高性能儀器。它采用六硼化鑭燈絲，可以對進行實時研磨監控。該儀器又是***個微區觀察、樣品分析、微區研磨的集合體，應用范圍廣泛。
滬公網安備31011502016460號
