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德國(guó)超聲波掃描顯微鏡KSI V400E
價(jià) 格:詢價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-18 11:53
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1077
上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
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安賽斯(中***)有限公司---檢測(cè)設(shè)備優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商
產(chǎn)品標(biāo)簽:超聲波掃描顯微鏡,超聲掃描顯微鏡,聲掃顯微鏡,超聲C掃描系統(tǒng)
超聲波掃描顯微鏡是利用超聲波對(duì)微觀物體進(jìn)行成像的無(wú)損檢測(cè)設(shè)備。可對(duì)各種材料、元器件內(nèi)部缺陷、空洞、氣泡、分層缺陷、雜質(zhì)、裂紋進(jìn)行非破壞性檢測(cè);還可進(jìn)行涂鍍層結(jié)合質(zhì)量,內(nèi)部焊接質(zhì)量,鍵合層缺陷等檢測(cè)、空洞率計(jì)算等。
超聲波掃描顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域:
半導(dǎo)體電子行業(yè):半導(dǎo)體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;
材料行業(yè):復(fù)合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導(dǎo)材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等;
生物醫(yī)學(xué):活體細(xì)胞動(dòng)態(tài)研究、骨骼、血管的研究等
超聲波掃描顯微鏡在失效分析中的應(yīng)用:
晶圓面處分層缺陷
錫球、晶圓、或填膠中的開(kāi)裂
晶圓的傾斜
各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠…等)
超聲波顯微鏡的在失效分析中的優(yōu)勢(shì):
非破壞性、無(wú)損檢測(cè)材料或IC芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)
可分層掃描、多層掃描
實(shí)施、直觀的圖像及分析
缺陷的測(cè)量及缺陷面積和數(shù)量統(tǒng)計(jì)
可顯示材料內(nèi)部的三維圖像
對(duì)人體是沒(méi)有傷害的
可檢測(cè)各種缺陷(裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等)
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V-400E、V-700E、V-1000E單探頭超聲波掃描顯微鏡
-該型號(hào)超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)是實(shí)驗(yàn)室、研發(fā)和工業(yè)生產(chǎn)線主流機(jī)型。
- 掃描速度可達(dá):2000mm/s
- 與其它品牌機(jī)型相比掃描效率高30%
- *小掃描范圍:200μm×200μm
- 射頻帶寬:500MHz
- 新型FCT防誤判探頭
V-duo、V-quatrro、V-Octo多探頭超聲波掃顯微鏡
多探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),同時(shí)使用2只、4只或8只換能器
- 掃描速度:2000 mm/s
- 與其它品牌相比掃描效率高30%
- *小掃描范圍:200μm×200μm
- 帶寬:550MHz
- 新型換能器
Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描系統(tǒng)
它是聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合。
- 換能器頻率范圍:100MHz――2000MHz頻率實(shí)現(xiàn)高分辨率
- 探測(cè)深度<100nm
- 特殊平均模式使信噪比更好
- 同步光學(xué)成像和超聲波成像使樣品在結(jié)構(gòu)上、生物化學(xué)性能上和機(jī)械性能上具有關(guān)聯(lián)性。
- 光聲效應(yīng)增強(qiáng)了對(duì)比性
- 放大倍數(shù):1000倍
- 入射光顯微鏡和倒置光學(xué)顯微鏡可調(diào)節(jié)
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產(chǎn)品標(biāo)簽:超聲波掃描顯微鏡,超聲掃描顯微鏡,聲掃顯微鏡,超聲C掃描系統(tǒng)
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