應(yīng)用 | 目標(biāo)群體 | 實(shí)例 |
金屬樣品分析
質(zhì)量控制
失效分析
新材料開(kāi)發(fā)
結(jié)構(gòu)成分的鑒定和量化
晶粒大小和非金屬夾雜物的檢測(cè)
腐蝕損害的分析
氣孔和裂痕的檢測(cè)
孔隙率的測(cè)定 | 機(jī)械工程學(xué)
汽車制造行業(yè)
汽車行業(yè)
航空、航天領(lǐng)域
船工業(yè)
金屬行業(yè)
鑄造業(yè)
以上各行業(yè)和大學(xué)的研究中心 | 被氧化的鎳合金鋼  |
材料分析 質(zhì)量控制
阻力測(cè)試
失效分析
鑒定 | 材料科學(xué)的研究中心
新材料機(jī)構(gòu)
汽車行業(yè)
航空航天領(lǐng)域
船舶制造業(yè)
精密儀器行業(yè) | 硅鐵片的磁疇結(jié)構(gòu) |
聚合物分析
質(zhì)量控制
阻力測(cè)試
失效分析
鑒定 | 塑料加工行業(yè)
汽車領(lǐng)域
航空、航天領(lǐng)域
精密器械
塑料行業(yè)的研究中心 | 丁二稀橡膠的液晶相 |
礦物原材料分析
巖相測(cè)定和定量分析
質(zhì)地和結(jié)構(gòu)分析
氣孔分析 | 礦物、地質(zhì)行業(yè)的研究機(jī)構(gòu)
采礦公司 (天然氣和原油、巖石學(xué)、粘土/瓷土/石英、經(jīng)濟(jì)地質(zhì)學(xué)) | 反射光明場(chǎng)下含黃鐵的礦石 |
微系統(tǒng)元件的分析和測(cè)試
缺陷分析
純度測(cè)定(噴濺殘留物)
生產(chǎn)控制
干涉的階梯高度測(cè)量 | 微系統(tǒng)工程的研發(fā)和生產(chǎn) | 1.支持安全氣袋傳感器(C-DIC),噴濺殘留物 2.支持安全氣袋傳感器, C-TIC |
玻璃、陶瓷的分析
質(zhì)量控制 (缺陷分析,粗糙度的測(cè)量)
過(guò)程控制
失效分析
新材料研發(fā) | 玻璃制造商(如SCHOTT, OSRAM,Rodenstock) 建筑用陶瓷生產(chǎn)商 建筑結(jié)構(gòu)機(jī)構(gòu)（如：耐火材料研究院、陶瓷研究院） | 玻璃中的四面體夾雜物 |
太陽(yáng)能電池的分析 接觸點(diǎn)和接觸表面的質(zhì)量控制
太陽(yáng)能電池的缺陷分析(顯微裂紋,氣泡等)
絕緣帶和條狀導(dǎo)體的質(zhì)量控制
應(yīng)用于太陽(yáng)能電池薄膜發(fā)展的新“Scnbing”技術(shù) | 涉及到太陽(yáng)能光伏電池研究的科研機(jī)構(gòu) 生產(chǎn)太陽(yáng)能電池薄膜單晶硅和多晶硅的生產(chǎn)廠商 生產(chǎn)用于太陽(yáng)能電池薄膜的“scnbing”工具的生產(chǎn)廠商 | 反射光明場(chǎng)下的多晶硅太陽(yáng)能電池 |
印刷電路板的分析 接觸點(diǎn)和接觸表面的質(zhì)量控制
絕緣層和保護(hù)層的質(zhì)量控制臺(tái)
結(jié)合區(qū)的顯示和分析
| 電子工程和電子學(xué)的研究機(jī)構(gòu)和生產(chǎn)廠商
印刷電路板的生產(chǎn)廠商
汽車零部件的供應(yīng)商
消費(fèi)電子領(lǐng)域的生產(chǎn)廠商和零部件供應(yīng)商
機(jī)械電子學(xué) | 條形導(dǎo)體上的缺陷 合區(qū)EDF圖像，反射光 |
木材/紙/細(xì)胞膜質(zhì)的分析
質(zhì)量檢測(cè) (建筑木材、高質(zhì)量木材)
涂層、顏料層、侵蝕保護(hù)
對(duì)建筑用木材的分析
| 木材加工工業(yè)
樹(shù)木年代研究(樹(shù)木年輪測(cè)定)
纖維方面的生產(chǎn)商
造紙
研究中心 實(shí)驗(yàn)室
修復(fù)研究 | 木材 (銀杏莖皮) ? K. Verbeeck - HCTO, Antwerp() |
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