FEI Talos F200系列 透射電子顯微鏡
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FEI Talos F200X 融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (STEM) 和 TEM 成像功能與行業ling先的能量色散 X 射線光譜儀 (EDS) 信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學表征功能。Talos F200X 可在所有維度 (1D-4D) 下實現zui快速、zui精確的 EDS 分析,以及zui好且支持快速導航的動態顯微鏡 HRTEM 成像。
FEI Talos F200X 融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (STEM) 和 TEM 成像功能與行業ling先的能量色散 X 射線光譜儀 (EDS)。Talos F200S 在 STEM 成像上具有極大的多功能性和極高的通量。它可以為動態顯微鏡實現zui精確的 EDS 分析和zui好的 HRTEM。與此同時,FEI Talos F200S 還提供zui高的穩定性和*長的正常運行時間。