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FEI Apreo 場發(fā)射掃描電子顯微鏡
價 格:詢價
產(chǎn) 地:更新時間:2021-01-18 15:01
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Apreo 復(fù)合透鏡設(shè)計結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù),可產(chǎn)生前所未有的高分辨率和信號選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺,并且不會降低磁性樣品性能。
Apreo 受益于獨特的透鏡內(nèi)背散射探測,這種探測提供卓越的材料對比度,即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時也不例外。新型復(fù)合透鏡通過能量過濾進***步提高了對比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過濾。可選低真空模式,現(xiàn)在的zui大樣品倉壓力為 500 Pa,可以對要求zui嚴苛的絕緣體進行成像。
通過這些優(yōu)勢(包括復(fù)合末***透鏡、高***探測和靈活樣品處理),Apreo 可提供出色的性能和多功能性,幫助您應(yīng)對未來的研究難題。