高速分析型場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-18 15:21
品 牌:型 號(hào):JSM-7200F
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1336
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JSM-7200F是日本電子株式會(huì)社(JEOL Ltd.)于2015年推出的***款多功能、簡(jiǎn)單易用的分析型場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡,這款高分辨率掃描電鏡是進(jìn)行樣品納米***圖像顯微分析與微區(qū)化學(xué)成分分析的理想選擇。
通過(guò)內(nèi)的*佳光闌角控制透鏡技術(shù),JSM-7200F可以在任意加速電壓下實(shí)現(xiàn)小束斑尺寸的大分析束流進(jìn)而可以輕松實(shí)現(xiàn)100nm以?xún)?nèi)的高空間分辨率分析。
JSM-7200F/LV配有大樣品倉(cāng),非常適合于搭載的能譜儀、波譜儀、EBSD相機(jī)、CL陰極發(fā)光探測(cè)器、拉伸臺(tái)、EBL以及SXES(JEOL技術(shù),通過(guò)探測(cè)低能量的波長(zhǎng)從而獲得樣品的化學(xué)價(jià)態(tài)信息)等分析探測(cè)器。同時(shí),JSM-7200F具有抽屜式樣品倉(cāng)可以安裝諸如加熱、拉伸以及冷凍樣品臺(tái)進(jìn)行原位分析。