現(xiàn)在位置:首頁>光學(xué)儀器>光學(xué)測量儀器> 應(yīng)力儀
薄膜殘余應(yīng)力儀
價 格:詢價
產(chǎn) 地:更新時間:2021-01-18 16:41
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2404
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基于經(jīng)典基片彎曲法Stoney公式測量原理,采用控制技術(shù)和傻瓜化的操作,使得FST1000薄膜應(yīng)力測量儀特別適合于要求快速測量常規(guī)薄膜殘余應(yīng)力。